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Comparative study on dry etching of alpha- and beta-SiC nano-pillars

机译:α-β-siC纳米柱干法刻蚀的对比研究

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摘要

Different polytypes (alpha-SiC and beta-SiC) and crystallographic orientations ((0001) and (11-20) of 6H-SiC) have been used in order to elaborate silicon carbide (SiC) nanopillars using the inductively coupled plasma etching method. The cross section of the SiC pillars shows a rhombus, pentagonal or hexagonal morphology depending on polytypes and crystallographic orientations. The favored morphologies of SiC nanopillars originate from a complex interplay between their polytypes and crystal orientations, which reflects the so-called Wulffs rule.
机译:为了使用感应耦合等离子体蚀刻方法制作碳化硅(SiC)纳米柱,已使用了不同的多型体(α-SiC和β-SiC)和晶体学取向(6H-SiC的(0001)和(11-20))。 SiC柱的横截面显示出菱形,五边形或六边形形态,具体取决于多型和晶体学取向。 SiC纳米柱的首选形态源自其多型与晶体取向之间的复杂相互作用,这反映了所谓的Wulffs规则。

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